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　　數(shù)顯立式光學(xué)計的優(yōu)點是：

　　1.擺脫了信號累加計數(shù)方式，依據(jù)像元序號計數(shù)，從信號接收到輸出均為純數(shù)字量，無須電子細分，因此對信號質(zhì)量要求寬松，抗干擾性強，計數(shù)穩(wěn)定性好。

 

　　2.計數(shù)的依據(jù)是光帶落在CCD像元上的序號，在這之前途經(jīng)的像元不參加計數(shù)，因此不存在漏計數(shù)問題，給使用帶來了方便。

 

　　3.可以利用軟件對光學(xué)杠桿正切函數(shù)的非線性和CCD像元位置誤差進行區(qū)段修正，因此示值精度更容易控制。

 

　　4.采用液晶屏顯示，除顯示數(shù)字外，增加了模擬標尺，利用光標在標尺上的左右移動指示當前接收像元在整個測量范圍中所處的位置，能幫助操作者快速調(diào)整示值零位和方便找拐點操作。

 

　　數(shù)顯立式光學(xué)計的實驗操作步驟：

　　1、記錄數(shù)據(jù)

　　分別記錄下量塊組的基本尺寸L和立式光學(xué)計的偏移量讀數(shù)，進行數(shù)據(jù)處理得到塞規(guī)的尺寸。將測量結(jié)果與國標中塞規(guī)的尺寸公差進行比較，判斷塞規(guī)是否合格。

 

　　2、選擇測頭

　　測頭有球形、平面形和刀口形三種，根據(jù)被測零件表面的幾何形狀來選擇，使測頭與被測表面盡量滿足點接觸。測量平面工件時，選擇球形測頭；測量球面工件時，選擇平面測頭；測量圓柱面工件時，應(yīng)選用刀口形測頭。

　　塞規(guī)的測量面為圓柱形，因此本實驗應(yīng)選用刀口形測頭。

 

　　3、調(diào)整儀器零位

　　將量塊組放在工作臺上，先調(diào)整光學(xué)計立柱的升降螺母，使測頭的高度略低于量塊上表面，鎖緊升降螺母。壓下壓桿抬起測頭，將測頭緩緩放到量塊上表面，避免沖擊。然后按下reset歸零按鈕，顯示屏示數(shù)為0，完成儀器調(diào)零，測頭的此位置為零位。按下壓桿，抬起測頭，取下量塊組。

 

　　4、測量塞規(guī)

　　測量時，按下壓桿，將塞規(guī)放在工作臺上，放下測頭，壓在塞規(guī)上表面。等顯示屏示數(shù)穩(wěn)定后，讀取示數(shù)，即為塞規(guī)相對基本尺寸零位的偏移量△L。

 

　　5、進行隨機誤差分布規(guī)律實驗

　　再次對塞規(guī)測量，并且盡可能測量塞規(guī)同一部位，反復(fù)測量100次，注意每測完3～5次必須對儀器重新調(diào)零。然后要對測量數(shù)據(jù)進行處理，作出直方圖并求出標準偏差和極限測量誤差。

 

　　6、根據(jù)被測塞規(guī)的基本尺寸組合量塊

　　由于光學(xué)計測頭的活動范圍為10mm，因此組合量塊的尺寸與塞規(guī)的基本尺寸差值應(yīng)在10mm以內(nèi)，方便測量。

　　量塊上有防銹油，使用前先用棉紗將量塊擦干凈，尤其是兩個基本尺寸面。拿起量塊時，不要碰觸到基本尺寸面。